可剥离半导电屏蔽料剥离强度检测数据集已成功在上海市数据产品知识产权管理平台进行登记，应用在材料性能测试、半导电屏蔽料领域

上海欧伯尔新材料有限公司本次登记的数据知识产权可剥离半导电屏蔽料剥离强度检测数据集,本数据结构包含17个字段，试样编号为字符串类型，标识可剥离半导电屏蔽料样品；剥离速度v（mm/min）、剥离角度θ（°）、材料厚度δ（mm）、交联程度C（%）、界面黏结力τ（N/cm）、温度T（℃）、剥离力F（N）、平均剥离强度P（N/cm）、剥离波动系数ΔP、表面残留率R（%）、界面破坏形式均为原始检测字段；可剥离性能指数S、最佳剥离速度、剥离等级为计算输出字段。S由多因素耦合模型计算得出，剥离等级依据S与残留率划分为特级、一级、合格级。数据集完整记录屏蔽料与绝缘界面结合状态、剥离工况、力学响应与表面质量，为可剥离半导电屏蔽料性能评价提供完整数据链。

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