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基于多模板匹配与缺陷特征库的化工隔膜表面质量检测算法模型已成功在上海市数据产品知识产权管理平台进行登记,应用在化工隔膜缺陷检测、工业视觉质量管控领域

五号数据雷达数据知识产权登记2026-05-10 05:4810
2026-05-09,东胜化学(上海)有限公司旗下基于多模板匹配与缺陷特征库的化工隔膜表面质量检测算法模型数据知识产权在上海市数据产品知识产权管理平台完成登记,应用于化工隔膜缺陷检测、工业视觉质量管控领域

东胜化学(上海)有限公司本次登记的数据知识产权基于多模板匹配与缺陷特征库的化工隔膜表面质量检测算法模型,本数据产品采用“本地文件系统+结构化日志”的轻量化分级存储模式,通过唯一命名规则与日志字段的强关联,构建“图像采集-缺陷识别-结果溯源”的全链路可追溯体系。 (1)图像文件:原始图像为封装产线工业相机采集的容器口封装完成后的隔膜密封面高清图像,存放于raw/文件夹,命名格式为“批次号_时间_序号.png”,相机分辨率4000×3000;预处理图像保存于processed/文件夹,经灰度化、中值滤波、直方图均衡化及边缘检测生成,文件名与原始图像一一对应,确保双向溯源。 (2)检测结果日志:采用结构化格式,单次检测完成追加一行记录,核心字段包含唯一检测ID、检测时间、批次号、序号、图像路径、相似度得分、判定结果、缺陷类型,所有字段定义统一,可直接导入数据分析工具。 (3)数据关联与安全:通过唯一检测 ID、检测时间、批次号等关键字段,可快速检索日志并定位对应图像,满足缺陷追溯与批次统计需求。 (4)系统扩展性:预留标准化API接口,可对接企业ERP系统,实现数据自动上传与集中管理,适配后续数字化升级。

查看基于多模板匹配与缺陷特征库的化工隔膜表面质量检测算法模型

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