中山大学 发布 CXR-AD 数据集, 应用在 半导体组件、异常检测 领域

中山大学 本次发布的数据集 CXR-AD, CXR-AD数据集是首个针对半导体组件X射线图像的公开异常检测数据集，包含来自现实世界工业生产环境的真实X射线图像。数据集涵盖了五个工业组件类别，包括653个正常样本和561个缺陷样本，并具有精确的像素级掩码标注。该数据集旨在为异常检测算法提供新的视角，并为评估算法提供一个新基准。数据集提出了几个关键挑战，包括复杂背景和细微异常、多尺度异常分布以及高检测难度。

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